Серийное производство метрологического оборудования для линейных измерений от 0.2 нм до 200 мм, АО Завод ПРОТОН

124498, Москва, Зеленоград,
пл. Шокина, д.1, стр.6
metrology@z-proton.ru, b_loginov@mail.ru
Реквизиты | Лицензии | Лаборатория | Разработки | Прайс

тел. +7 (495) 003-13-43

КОНТУРОГРАФ
модели 220
ТУ 3943-005-70281271-2011, ГР58193-14

Снятие и измерение геометрии деталей с получением 25 параметров шероховатости; работа с телами вращения на шпинделе в режиме кругломера

Длина трассирования:	0.1 мм – 220 мм
Диап.измерений по высоте:	0.1 мкм – 120мм
Диапазон измерений по Ra:	0.005 - 500 мкм
Отклонение от круглости:	до 4 мкм

Комплектация набором щупов, набором из 10 калибровочных и эталонных мер, а так же современным компьютером

Документы на контурограф модели 220
Свидетельство о внесении в Госреестр,Описание типа

ПРОФИЛОМЕТР
модели 130
ТУ 3943-001-70281271-2007, ГР 33319-13

Измерение параметров шероховатости Ra; Rz; Rmax; Rp; Rv; Rq; Sm; S; la; lq; tp; Lo; D; da; dq и др., просмотр профилограммы и измерение размеров неоднородностей

Длина трассирования:	0.5 мм – 40 мм
Диапазон измерений по Ra:	0.012 – 50мкм
Степень точности	1 (погрешн. 2%)
Работа внутри отвестий	> 3мм

Комплектация эталонными мерами «ПРО-10» ГР 46835-11 0.005 – 100 мкм по Ra и современным компьютером

Документы на профилометр модели 130
Свидетельство о внесении в Госреестр, Описание типа

Документы на эталонную меру «ПРО-10»
Свидетельство о внесении в Госреестр, Описание типа

МИКРОСКОП
сканирующий зондовый СММ-2000
ТУ 4431-002-70281271-2011, ГР 46918-11

Просмотр и измерение зерен и дефектов структуры материалов, разрешение до атомов (Нобелевская премия 1986г), замена метало-графических и электронных микроскопов

Увеличение:	от х2 тысяч до х10 млн.
Диапазон измерения:	от 0.2 нм до 30 мкм
Все базовые (СТМ, контактный и вибро-АСМ) режимы, и более 25 доп.режимов